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MC016系列顯微熔點(diǎn)儀(SGW X-4B)

MC016系列顯微熔點(diǎn)儀

MC016系列(SGW X-4B

一、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍:

   SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍:測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

二、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):

1、熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320

2、最小讀數(shù):0.1

3、測量重復(fù)性:±1(在<200時)

          ±2(在200300時)

4、配雙目體視顯微鏡

5、光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)